- USD ЦБ 03.12 30.8099 -0.0387
- EUR ЦБ 03.12 41.4824 -0.0244
Краснодар:
|
погода |
ГОСТ 21006-75
Группа П00
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ
Термины, определения и буквенные обозначения
Electron microscopes. Terms definitions and letter symbols
МКС 01.040.31
Дата введения 1976-07-01
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 17 июля 1975 г. N 1835 дата введения установлена 01.07.76
Ограничение срока действия снято Постановлением Госстандарта СССР от 10.12.81 N 5329
ПЕРЕИЗДАНИЕ.
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения величин электронных микроскопов.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, учебниках, учебных пособиях, технической и справочной литературе. Приведенные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятия.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Применение терминов - синонимов стандартизованного термина запрещается. Недопустимые к применению термины-синонимы приведены в стандарте в качестве справочных и обозначены пометой "Ндп".
Для отдельных стандартизованных терминов в стандарте приведены в качестве справочных их краткие формы, которые разрешается применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
В стандарте в качестве справочных для ряда стандартизованных терминов приведены иностранные эквиваленты на немецком (D) и английском языках (Е).
В стандарте приведены алфавитные указатели содержащихся в нем терминов на русском языке и их иностранных эквивалентов.
К стандарту дано приложение, содержащее термины общих понятий электронно-оптических приборов.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы - курсивом.
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ
ВКУ |
10 |
Зеркало электронное |
9 |
Изображение в наведенном электронном зондом токе |
37 |
Изображение во вторичных электронах |
33 |
Изображение во вторичных электронах при ионной бомбардировке |
43 |
Изображение во вторичных электронах при электронной бомбардировке |
44 |
Изображение в Оже-электронах |
39 |
Изображение в отраженных электронах |
34 |
Изображение в поглощенных электронах |
35 |
Изображение в прошедших электронах |
40 |
Изображение в рентгеновском характеристическом излучении |
38 |
Изображение в термоэлектронах |
45 |
Изображение в фотоэлектронах |
46 |
Изображение картин каналирования электронов |
41 |
Изображение катодолюминесцентное |
36 |
Изображение при |
42 |
Изображение светлопольное |
30 |
Изображение темнопольное |
31 |
Колонна |
28 |
Колонна электронного микроскопа |
28 |
Конденсор |
15 |
Конденсор двойной |
16 |
Конденсор электронного микроскопа двойной |
16 |
Линза |
11 |
Линза дифракционная |
18 |
Линза магнитная |
12 |
Линза проекционная |
20 |
Линза промежуточная |
19 |
Линза формирующая |
14 |
Линза электронного микроскопа конденсорная |
15 |
Линза электронного микроскопа магнитная |
12 |
Линза электронного микроскопа объективная |
17 |
Линза электронного микроскопа проекционная |
20 |
Линза электронного микроскопа промежуточная |
19 |
Линза электронного микроскопа электронная |
11 |
Линза электронного микроскопа электростатическая |
13 |
Линза электростатическая |
13 |
Микродифракция |
32 |
Микропроектор |
7 |
Микроскоп-проектор |
7 |
Микроскоп электронный |
1 |
Микроскоп электронный зеркальный |
6 |
Микроскоп электронный отражательный |
4 |
Микроскоп электронный просвечивающий |
2 |
Микроскоп электронный растровый |
3 |
Микроскоп электронный сканирующий |
3 |
Микроскоп электронный трансмиссионный |
2 |
Микроскоп электронный эмиссионный |
5 |
Наконечник полюсный |
27 |
Наконечник электронного микроскопа полюсный |
27 |
Напряжение ускоряющее |
47 |
Напряжение электронного микроскопа ускоряющее |
47 |
Нестабильность напряжения |
48 |
Нестабильность напряжения электронного микроскопа |
48 |
Нестабильность тока |
49 |
Нестабильность тока электронного микроскопа |
49 |
Объектив |
17 |
Проектив |
20 |
Проектор автоэлектронный |
7 |
Пушка электронная |
8 |
Пушка электронного микроскопа электронная |
8 |
ПЭМ |
2 |
РЭМ |
3 |
Система вакуумная |
23 |
Система отклоняющая |
25 |
Система регистрирующая |
21 |
Система электронного микроскопа вакуумная |
23 |
Система электронного микроскопа отклоняющая |
25 |
Система электронного микроскопа регистрирующая |
21 |
Система электронного микроскопа юстировочная |
24 |
Система юстировочная |
24 |
Способность электронного микроскопа по кристаллической решетке разрешающая |
53 |
Способность электронного микроскопа по точкам разрешающая |
54 |
Способность электронного микроскопа разрешающая |
52 |
Стигматор |
26 |
Увеличение общее |
51 |
Увеличение электронного микроскопа электронно-оптическое |
50 |
Угол объективной линзы апертурный |
57 |
Угол объективной линзы электронного микроскопа апертурный |
57 |
Угол осветительной системы апертурный |
58 |
Угол осветительной системы электронного микроскопа апертурный |
58 |
Угол формирующей линзы апертурный |
56 |
Устройство растрового электронного микроскопа видеоконтрольное |
10 |
Устройство электронного микроскопа шлюзовое |
29 |
Фотокамера |
22 |
Фотокамера электронного микроскопа |
22 |
Шлюз |
29 |
Яркость электронная |
55 |
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА НЕМЕЦКОМ ЯЗЫКЕ
Abbildung mit Channelling Diagrammen |
41 |
Abbildung mit Kathodolumineszengz |
36 |
Abbildung mit induzierten |
37 |
Abbildung mit |
35 |
Abbildung mit |
34 |
Abbildung mit |
33 |
Ablenksystem |
25 |
|
52 |
Aufnahmekammer |
22 |
Beschleunigungsspannung |
47 |
Doppelkondensor |
16 |
Dunkelfeldabbildung |
31 |
Durchstrahlungs-Elektronenmikroskop |
2 |
Elektrische Linse |
13 |
Elektronenlinse |
11 |
Elektronenmikroskop |
1 |
Elektronenoptische |
50 |
Elektronenspiegel |
9 |
Elektronenstrahler |
8 |
Emissions-Elektronenmikroskop |
5 |
Feinbereichsbeugung |
32 |
|
51 |
Hellfeldabbildung |
30 |
Kondensorlinse |
15 |
Magnetische Linse |
12 |
Mikroskoprohr |
28 |
Netzebenenabbildung |
53 |
Objektivlinse |
17 |
Polschuh |
27 |
Projektiv |
20 |
|
54 |
Rasterelelektronenmikroskop |
3 |
Reflexions-Elektronenmikroskop |
4 |
Richtsrtahlwert |
55 |
Schleuse |
29 |
Spiegelelektronenmikroskop |
6 |
Stigmator |
26 |
Vakuumanlage |
23 |
Zwischenlinse |
19 |
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА АНГЛИЙСКОМ ЯЗЫКЕ
Absorbed specimen current mode |
35 |
Accelerating voltage |
47 |
Airlock |
29 |
Backscattered Electron mode |
34 |
Bright-field image |
30 |
Brightnes |
55 |
Cathodoluminescence mode |
36 |
Condenser lens |
15 |
Dark-field image |
31 |
Deflection system |
25 |
Double condenser |
16 |
Electric lens |
13 |
Electron Channeling Pattern mode |
41 |
Electron gun |
8 |
Electron lens |
11 |
Electron microscope |
1 |
Electron mirror |
9 |
Electron optical magnification |
50 |
Emission electron microscope |
5 |
Induced current mode |
37 |
Intermediate lens |
19 |
Lattice plane resolution |
53 |
Magnetic lens |
12 |
Microscope column |
28 |
Mirror electron microscope |
6 |
Objective lens |
17 |
Photographic chamber |
22 |
Point resolution |
54 |
Pole piese |
27 |
Projector |
20 |
Reflection electron microscope |
4 |
Resolving power |
52 |
Scanning electron microscope |
3 |
Secondary-Emission mode |
33 |
Selected ared diffraction |
32 |
Stigmator |
26 |
Total magnification |
51 |
Transmission electron microscope |
2 |
Vacuum system |
23 |
ПРИЛОЖЕНИЕ
Справочное
ОБЩИЕ ПОНЯТИЯ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ ПРИБОРОВ
Термин |
Пояснение |
1. Электронно-оптический элемент |
Устройство, предназначенное для формирования электронных пучков или управления ими электрическими и (или) магнитными полями |
2. Электронно-оптическая система |
Совокупность электронно-оптических элементов |
3. Осветительная система |
Часть электронно-оптической системы, предназначенной для формирования электронных пучков, освещающих объект |
4. Изображающая система |
Часть электронно-оптической системы, формирующая увеличенное изображение объекта или дифракционной картины |
5. Аберрация |
Искаженное изображение объекта, возникающее вследствие непараксиальности и немонохроматичности электронных пучков, дифракции электронов |
6. Электронный луч |
Совокупность электронов, движущихся по одной траектории |
7. Электронный пучок |
Совокупность электронных лучей, имеющих общую точку |
8. Кроссовер |
Минимальное сечение электронного пучка в эмиссионной системе |
9. Электронный зонд |
Электронный пучок, имеющий минимальное сечение в заданной плоскости |
10. Эмиссионная система |
Электронно-оптическая система, предназначенная для формирования электронного пучка и управления его интенсивностью |
11. Фиктивный катод |
Мнимое изображение катода, образованное полем, прилегающим непосредственно к катоду |
12. |
Катод, изготовленный из проволоки, согнутой под острым углом, вершина которого является эмиттером |
13. Остроконечный катод |
Катод, эмиттер которого имеет заостренный конец |
|
|
Острийный катод |
|
14. Объект исследования |
Предмет, исследуемый в электронном микроскопе |
Нрк. Препарат |
|
Образец |
|
15. Столик объектов |
Устройство, предназначенное для установки и перемещения объектов |
16. Апертурная диафрагма |
Диафрагма, ограничивающая апертурный угол |
17. Селекторная диафрагма |
Диафрагма, ограничивающая участок объекта, с которого получают дифракционную картину |
Текст документа сверен по:
официальное издание
Электроника. Термины и определения. Часть 2:
Сб. стандартов. - М.: Стандартинформ, 2005